Контроль печатных узлов

Установка рентгеновского контроля YXLON Cheetah

Возможность работы с крупными образцами, высочайшее качество изображения и широкий ассортимент дополнительных опций делают рентгеновскую установку Y.Cheetah исключительным инструментом неразрушающего рентгеновского контроля.

Подробнее

Установка рентгеновского контроля YXLON Cougar SMT

Универсальная микрофокусная система в простом и эргономичном исполнении с хорошим увеличением и прекрасным разрешением сканирования.

Все рабочие операции производятся в режиме реального времени.

Подробнее

Настольная установка рентгеновского контроля TruView Prime

TruView Prime – исключительно компактная установка рентгеновского контроля начального уровня с лучшим сочетанием стоимости и технических характеристик на рынке.

Подробнее

Установка 3D автоматической оптической инспекции OMRON VT-S500

Повышенная точность инспекции паяных соединений при минимуме ложных дефектов. Контроль на уровне IPC-стандартов.

3D-инспекция паяных соединений
по минимальной цене.

Подробнее

Установка 3D автоматической оптической инспекции OMRON VT-S530

Новинка 2017 года.

Полноценная 3D-инспекция печатных плат после этапа монтажа и после этапа пайки.

Подробнее

Установка автоматической 3D-инспекции качества пайки OMRON VT-S730

Предназначена для контроля качества после этапа пайки.

Серия установок VT-S для контроля качества пайки применяется там,
где предъявляются особенно жесткие требования к качеству изделий.

Подробнее

Конвейерная установка рентгеновского контроля и компьютерной томографии OMRON VT-X750

Новинка 2017 года.

Высокоскоростная конвейерная установка выводит качество инспекции смонтированных печатных плат на новый уровень.

Подробнее

Установка автоматической 3D инспекции качества нанесения паяльной пасты OMRON VP6000-V

Контроль нанесения паяльной пасты
в формате 3D с возможностью мгновенной коррекции оттиска пасты
в процессе трафаретной печати.

Подробнее

Системы внутрисхемного контроля HIOKI FA 1240-61 (-63)

Разработан специально для задач выявления скрытых дефектов в изделиях микроэлектроники.

Высокая скорость сканирования, широкий диапазон частот, оптимальное разрешение делают его эффективным решением для неразрушающего контроля.

Подробнее

Сканирующий акустический микроскоп AcouLab SAM-DENEB

Разработан специально для задач выявления скрытых дефектов в изделиях микроэлектроники.

Высокая скорость сканирования, широкий диапазон частот, оптимальное разрешение делают его эффективным решением для неразрушающего контроля.

Подробнее

Установка автоматической оптической инспекции Mmodus AOI MLD1200-IDS/UV

Серия систем MLD1200-IDN, IUN, ION предназначена для синхронного обнаружения дефектов с верхней и нижней сторон печатной платы.

Подробнее

Установка автоматической оптической инспекции Modus AOI MLD1200-IDY/UV

Серия систем MLD1200-IDY/UV предназначена для синхронного обнаружения дефектов с верхней и нижней сторон печатной платы.

Подробнее