Сканирующий акустический микроскоп AcouLab SAM-DENEB

Задать вопрос

Акустическая микроскопия — это метод неразрушающего контроля, позволяющий выявлять скрытые дефекты в однородных и разнородных объектах и структурах. В микроэлектронике акустическая микроскопия применяется для выявления дефектов выводов flip-chip микросхем, пустот и расслоений, образующихся при монтаже и заливке кристаллов, трещин и повреждений микросхем и т.п.

Сканирующий акустический микроскоп SAM-DENEB

Разработан специально для задач выявления скрытых дефектов в изделиях микроэлектроники. Высокая скорость сканирования, широкий диапазон частот, оптимальное разрешение делают его эффективным решением для неразрушающего контроля.

ПРЕИМУЩЕСТВА

• высокая проникающая способность, которая позволяет распознавать дефекты на глубине до 6 метров в стали
• высокая чувствительность, позволяющая распознавать субмикронные дефекты
• возможного объемного контроля
• безопасность для оператора

ВОЗМОЖНОСТИ ПРОГРАММНОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ

• операционная система Windows 7
• автоматический и ручной режимы работы
• автоматическая фокусировка
• сканирование вида «сигнал-эхо» и «сквозной режим»
• сканирование в режимах: A, B, C — Scan, FFT — Scan, TOF 3D, Multi-Layer Scan, Tray Scan, Strip Scan