Сканирующий акустический микроскоп Серия SAM

Задать вопрос

Акустическая микроскопия – это метод неразрушающего контроля, позволяющий выявлять скрытые дефекты в однородных и разнородных объектах и структурах.

В микроэлектронике акустическая микроскопия применяется для выявления дефектов выводов flip-chip микросхем, пустот и расслоений, образующихся при монтаже и заливке кристаллов, трещин и повреждений микросхем и т.п.

Сканирующий акустический микроскоп серии SAM разработан специально для задач выявления скрытых дефектов в изделиях микроэлектроники.

Высокая скорость сканирования, широкий диапазон частот, оптимальное разрешение делают его эффективным решением для неразрушающего контроля.

Особенности

• Компактный дизайн и малые инвестиции
• Широкий диапазон частот (от 5 до 500 МГц)
• Выявление дефектов до 0,5 мкм
• Возможного объемного контроля
• Безопасность для оператора

Применение

• Flip-chip монтаж
• COB монтаж (на адгезив)
• Монтаж СВЧ кристаллов
• Заливка по технологиям underfill, glob-top, dam-and-fill
• BGA, QFP, TBGA, FBGA, SOT, MLCC и тп.
• Мишени, пластины, керамические материалы, трубы, сварочные швы и т.п.